參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.主量元素分析：SiO?、Al?O?、Fe?O?、CaO、MgO含量測(cè)定（精度0.5%）
2.微量元素檢測(cè)：As、Cd、Hg、Pb等重金屬限量（檢出限0.01-1mg/kg）
3.礦物組成鑒定：XRD法定性定量石英、長石、云母等礦物相（分辨率≤0.02）
4.物理性質(zhì)測(cè)試：密度（ASTMC693）、硬度（莫氏標(biāo)度）、比表面積（BET法）
5.放射性核素：U-238、Th-232、K-40活度測(cè)量（符合GB6566-2010）

檢測(cè)范圍

1.礦石原料：花崗巖、輝綠巖、高嶺土等地質(zhì)樣本
2.工業(yè)礦物產(chǎn)品：滑石粉、膨潤土、硅藻土加工制品
3.建筑材料：天然石材、陶瓷原料、水泥用混合材
4.環(huán)境樣本：土壤、沉積物中的礦物組分分析
5.地質(zhì)勘查樣品：巖芯、礦物包裹體成分鑒定

檢測(cè)方法

1.X射線熒光光譜法（XRF）：ASTMD4326測(cè)定主次量元素
2.電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）：ISO17294-2痕量元素分析
3.X射線衍射法（XRD）：GB/T30903-2014礦物相定量
4.γ能譜法：GB11743-2013放射性核素測(cè)定
5.激光粒度分析：ISO13320-1顆粒分布測(cè)試

檢測(cè)設(shè)備

1.X射線熒光光譜儀（型號(hào)XRF-2000）：元素快速篩查（Na-U）
2.全自動(dòng)X射線衍射儀（型號(hào)X'PertPRO）：礦物相識(shí)別精度0.001
3.電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（型號(hào)NexION2000）：ppb級(jí)元素檢出
4.激光粒度分析儀（型號(hào)Mastersizer3000）：0.01-3500μm測(cè)量范圍
5.γ能譜儀（型號(hào)GEM60P4-UL）：鈾系核素低本底測(cè)量
6.掃描電子顯微鏡（型號(hào)SEM-5500）：微觀形貌與能譜聯(lián)用
7.全自動(dòng)比表面分析儀（型號(hào)ASAP2460）：BET法孔徑分布測(cè)定
8.高溫?zé)嶂胤治鰞x（型號(hào)TGA8000）：礦物熱穩(wěn)定性測(cè)試
9.傅里葉紅外光譜儀（型號(hào)NicoletiS50）：官能團(tuán)結(jié)構(gòu)鑒定
10.莫氏硬度計(jì)（型號(hào)MH-6）：劃痕法硬度分級(jí)系統(tǒng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)